Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

M. Jewell, A. Schubert, W. R. Cen, J. Dalmasson, R. Devoe, L. Fabris, G. Gratta, A. Jamil, G. Li, A. Odian, M. Patel, A. Pocar, D. Qiu, Q. Wang, L. J. Wen, J. B. Albert, G. Anton, I. J. Arnquist, I. Badhrees, P. BarbeauD. Beck, V. Belov, F. Bourque, J. P. Brodsky, E. Brown, T. Brunner, A. Burenkov, G. F. Cao, L. Cao, C. Chambers, S. A. Charlebois, M. Chiu, B. Cleveland, M. Coon, A. Craycraft, W. Cree, M. Côté, T. Daniels, S. J. Daugherty, J. Daughhetee, S. Delaquis, A. Der Mesrobian-Kabakian, T. Didberidze, J. Dilling, Y. Y. Ding, M. J. Dolinski, A. Dragone, W. Fairbank, J. Farine, S. Feyzbakhsh, R. Fontaine, D. Fudenberg, G. Giacomini, R. Gornea, E. V. Hansen, D. Harris, M. Hasan, M. Heffner, E. W. Hoppe, A. House, P. Hufschmidt, M. Hughes, J. Hößl, Y. Ito, A. Iverson, X. S. Jiang, S. Johnston, A. Karelin, L. J. Kaufman, T. Koffas, S. Kravitz, R. Krücken, A. Kuchenkov, K. S. Kumar, Y. Lan, D. S. Leonard, S. Li, Z. Li, C. Licciardi, Y. H. Lin, R. Maclellan, T. Michel, B. Mong, D. Moore, K. Murray, R. J. Newby, Z. Ning, O. Njoya, F. Nolet, K. Odgers, M. Oriunno, J. L. Orrell, I. Ostrovskiy, C. T. Overman, G. S. Ortega, S. Parent, A. Piepke, J. F. Pratte, V. Radeka, E. Raguzin, T. Rao, S. Rescia, F. Retiere, A. Robinson, T. Rossignol, P. C. Rowson, N. Roy, R. Saldanha, S. Sangiorgio, S. Schmidt, J. Schneider, D. Sinclair, K. Skarpaas, A. K. Soma, G. St-Hilaire, V. Stekhanov, T. Stiegler, X. L. Sun, M. Tarka, J. Todd, T. Tolba, R. Tsang, T. Tsang, F. Vachon, V. Veeraraghavan, G. Visser, J. L. Vuilleumier, M. Wagenpfeil, M. Weber, W. Wei, U. Wichoski, G. Wrede, S. X. Wu, W. H. Wu, L. Yang, Y. R. Yen, O. Zeldovich, X. Zhang, J. Zhao, Y. Zhou, T. ZieglerShow 121 othersShow less