Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths

P. Lv, G. F. Cao, L. J. Wen, S. A. Kharusi, G. Anton, I. J. Arnquist, I. Badhrees, P. S. Barbeau, D. Beck, V. Belov, T. Bhatta, P. A. Breur, J. P. Brodsky, E. Brown, T. Brunner, S. Byrne Mamahit, E. Caden, L. Cao, C. Chambers, B. ChanaS. A. Charlebois, M. Chiu, B. Cleveland, M. Coon, A. Craycraft, J. Dalmasson, T. Daniels, L. Darroch, A. De St. Croix, A. Der Mesrobian-Kabakian, K. Deslandes, R. Devoe, M. L.DI Vacri, J. DIlling, Y. Y. DIng, M. J. Dolinski, L. Doria, A. Dragone, J. Echevers, F. Edaltafar, M. Elbeltagi, L. Fabris, D. Fairbank, W. Fairbank, J. Farine, S. Ferrara, S. Feyzbakhsh, A. Fucarino, G. Gallina, P. Gautam, G. Giacomini, D. Goeldi, R. Gornea, G. Gratta, E. V. Hansen, M. Heffner, E. W. Hoppe, J. Hobl, A. House, M. Hughes, A. Iverson, A. Jamil, M. J. Jewell, X. S. Jiang, A. Karelin, L. J. Kaufman, T. Koffas, R. Krucken, A. Kuchenkov, K. S. Kumar, Y. Lan, A. Larson, K. G. Leach, B. G. Lenardo, D. S. Leonard, G. Li, S. Li, Z. Li, C. Licciardi, R. MacLellan, N. Massacret, T. McElroy, M. Medina-Peregrina, T. Michel, B. Mong, D. C. Moore, K. Murray, P. Nakarmi, C. R. Natzke, R. J. Newby, Z. Ning, O. Njoya, F. Nolet, O. Nusair, K. Odgers, A. Odian, M. Oriunno, J. L. Orrell, G. S. Ortega, I. Ostrovskiy, C. T. Overman, S. Parent, A. Piepke, A. Pocar, J. F. Pratte, V. Radeka, E. Raguzin, S. Rescia, F. Retiere, M. Richman, A. Robinson, T. Rossignol, P. C. Rowson, N. Roy, J. Runge, R. Saldanha, S. Sangiorgio, K. Skarpaas, A. K. Soma, G. St-Hilaire, V. Stekhanov, T. Stiegler, X. L. Sun, M. Tarka, J. Todd, T. I. Totev, R. Tsang, T. Tsang, F. Vachon, V. Veeraraghavan, S. Viel, G. Visser, C. Vivo-Vilches, J. L. Vuilleumier, M. Wagenpfeil, T. Wager, M. Walent, Q. Wang, J. Watkins, W. Wei, U. Wichoski, S. X. Wu, W. H. Wu, X. Wu, Q. Xia, H. Yang, L. Yang, O. Zeldovich, J. Zhao, Y. Zhou, T. Ziegler

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

15 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths'. Together they form a unique fingerprint.

Engineering

Material Science

Physics