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KSEF R&D Excellence: Level-to-Level Alignment with Nanometer Accuracy for Electron-Bem Lithography
Hastings, Jeffrey
(PI)
Electrical and Computer Engineering
Información general
Detalles del proyecto
Description
No abstract available
Estado
Finalizado
Fecha de inicio/Fecha fin
9/1/04
→
3/31/06
Financiación
KY Science and Technology Co Inc:
14.973,00 US$
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