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A Fast On-Line Diagnostic Method for Open-Circuit Switch Faults in SiC-MOSFET-Based T-Type Multilevel Inverters

  • Jiangbiao He
  • , Nabeel A.O. Demerdash
  • , Nathan Weise
  • , Ramin Katebi

Producción científica: Articlerevisión exhaustiva

107 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A Fast On-Line Diagnostic Method for Open-Circuit Switch Faults in SiC-MOSFET-Based T-Type Multilevel Inverters'. En conjunto forman una huella única.
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Engineering