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Fluence dependence of excimer laser ablation of AIN

Producción científica: Conference contributionrevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Resumen

Aluminum nitride has been ablated with a KrF excimer laser (248nm) at fluences from 1 to 60 J/cm2. Ablation depth, emission spectra and photothermal beam deflection were detected as a function of fluence.

Idioma originalEnglish
Título de la publicación alojadaElectronic Packaging Materials Science VII
EditoresPeter Borgesen, Klavs F. Jensen, Roger A. Pollak
Páginas213-218
Número de páginas6
EstadoPublished - 1994
EventoProceedings of the Fall 1993 MRS Meeting - Boston, MA, USA
Duración: nov 29 1993dic 3 1993

Serie de la publicación

NombreMaterials Research Society Symposium Proceedings
Volumen323
ISSN (versión impresa)0272-9172

Conference

ConferenceProceedings of the Fall 1993 MRS Meeting
CiudadBoston, MA, USA
Período11/29/9312/3/93

ASJC Scopus subject areas

  • General Materials Science
  • Condensed Matter Physics
  • Mechanics of Materials
  • Mechanical Engineering

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Fluence dependence of excimer laser ablation of AIN'. En conjunto forman una huella única.

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