Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Impact of the Gate Dielectric on Contact Resistance in High-Mobility Organic Transistors'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Impact of the Gate Dielectric on Contact Resistance in High-Mobility Organic Transistors
Alexandra F. Paterson, Alexander D. Mottram, Hendrik Faber, Muhammad R. Niazi, Zhuping Fei, Martin Heeney, Thomas D. Anthopoulos
Producción científica: Article › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)