Interior stress for axisymmetric abrasive indentation in the free abrasive machining process: Slicing silicon wafers with modern wiresaw

F. Yang, I. Kao

Producción científica: Articlerevisión exhaustiva

18 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Interior stress for axisymmetric abrasive indentation in the free abrasive machining process: Slicing silicon wafers with modern wiresaw'. En conjunto forman una huella única.

Engineering

Material Science